Bruker白光干涉儀

Bruker白光干涉儀集三十年表面測量之大成，將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活，完美的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能。通過布魯克*的掃描頭傾斜技術，該系統可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化，從而輕松實現在一定角度內自動傾斜對表面特征進行測量。新一代的Vision64™ 軟件結合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性，更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品，在桌面型系統上實現了以往從未有過的各種特性。

Bruker白光干涉儀系統采用布魯克公司設計，傾斜調整支架自動化、可編程，從各個角度都可獲得樣品表面特性，同時將跟蹤誤差降至小，確保測試數據一致性。新一代的 Vision64 軟件和流線型分段化設計，數據分析直觀明了，操作過程快捷簡便。ContourGT-I集多項創新型檢測功能于一身，成為桌上型定量測試儀器的一個重大突破。汽車發動機、軸承、醫療器械、光學鏡片、半導體、LED、太陽能、生物醫學、高校、研究院測試過程更快、更便捷。